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IBIS 모델링-제3부: 벤치 측정을 통한 품질 수준 3 IBIS 모델 달성 방법

IBIS 모델은 일반적으로 설계 회로 시뮬레이션을 통해 생성됩니다. 그러나 오래된 릴리스된 부품으로 인해 설계 파일이 더 이상 사용되지 않거나 사용할 수 없거나 작업 불가능한 도식 파일 형식으로만 사용할 수 있는 경우도 있습니다. 이 문서는 데이터 추출에서 모델 검증에 이르기까지 실제 단위를 사용한 벤치 측정을 통해 IBIS 모델을 생성하기 위한 높은 수준의 절차를 제공하는 것을 목표로 합니다. 기생 추적에서 발생할 수 있는 임피던스 불일치를 최소화하는 전용 테스트 픽스쳐를 사용하여 신호 무결성 제약 조건을 관리하고 신뢰할 수 있는 IBIS 모델을 보장했습니다. 그런 다음 시뮬레이션과 벤치 측정을 통해 검증되어 IBIS 모델의 품질 수준 3을 준수했습니다.